2011年9月15日，中国密码学会密码芯片专业委员会“2011密码芯片分析与测评技术论坛”在深圳举行，密码芯片专业委员会是中国密码学会下属的四个专业委员会之一。本次论坛汇聚了密码芯片领域中从事密码芯片分析和测评的相关行业技术部门、国内外相关检测和测评机构、芯片厂商和应用软件厂商、相关学术研究机构的技术专家，共同探讨密码芯片分析和测评方面的最新学术成果、产业动态及发展趋势。国家商密办副主任安晓龙等领导也出席了本次会议。上海测评中心应邀参加了本次论坛。我中心技术总监陈清明在论坛上做了“芯片EAL4+安全检测和分析技术探讨”的主题演讲。陈清明总监在演讲中阐述了国内开展芯片EAL4+安全检测评估的标准、内容、程序和技术平台，特别展示了上海测评中心在芯片的非侵入、半侵入和侵入式检测以及中级抵抗力评估工作中所取得的进展，并对如何提升国内芯片安全分析和测评技术能力提出了几点建议。

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